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膜厚测量仪
用于测量ns及um级的薄膜厚度(film thickness),包括半导体薄膜薄膜厚度,光学薄膜厚度以及其他各种薄膜透明及半透明薄膜。
  • 涂层测厚仪 456系列 型号:456系列 此系列的涂层测厚仪(薄膜测厚仪)由于测量涂层厚度,包括铁基和非铁基上的涂层,可测量的涂层厚度范围为um级别,可测量范围是0~1500um.
  • 膜厚测量仪 NanoCalc 型号:NanoCalc 本膜厚测量仪适用于nm及um级薄膜厚度测量,测量的空间分辨率(测量点的大小)可达10um,厚度测量准确度为nm级。

京公网安备11010802026390号